Thema: Machine Learning and Deep Learning in Assessment – Special Issue 2
Hong Jiao, Qiwei He & Lihua Yao (Hrsg.)
Psychological Test and Assessment Modeling
Psychological Test and Assessment Modeling 2023-1
Thema: Machine Learning and Deep Learning in Assessment – Special Issue 2
Hong Jiao, Qiwei He & Lihua Yao (Hrsg.)
ISSN (Print) 2190-0493
ISSN (Online) 2190-0507
Preisspanne: 0,00 € bis 15,00 € inkl. MwSt.
| Gewicht | 0,2 kg |
|---|---|
| Größe | 1 × 21 × 29,7 cm |
| Online/Print | Online, Print |
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